日本JPSTSS-5X-3远红外线发射率测试仪
详细信息
| | 品牌：日本JPS | | 加工定制：否 | | 型号：TSS-5X-3 | |
| | 测量范围：0-0.99 | | 测量对象：红外线 | | 测量精度：0.01 | |
| | 尺寸：540 mm | | 重量：5 kg | | | |
日本TSS-5X远红外线发射率测试仪，TSS-5X远红外线放射率测试器
中国区域总代理：日本TSS-5X远红外线发射率测试仪也称为TSS-5X远红外线放射率测试器，远红外测试仪，本测量器可以用非常简单且高精度的方式,测量在常温中的各种物体的放射率。
TSS-5X远红外线发射率测试仪，TSS-5X远红外线放射率测试器，远红外测试仪早已经由宇宙开発、原子力、半导体产业等的尖端技术分类上所采用。从研究开発应用至生产线上的应用等，可供活用的范围非常广泛。
TSS-5X远红外线发射率测试仪应用：
1、在机器的热设计中必须使用的零件的放射率测量；
2、藉由放射温度计的测量物体来补正放射率；
3、各种零件的加工／处理前后的放射率比较；
4、其他、从零件的放射率求取物体本身的放射率等；
5、材料科学院、实验领域必须的检测分析设备。
TSS-5X远红外线发射率测试仪产品构成：
１．红外线照射源
藉由在一定温度中加热后的半球面迓谑粤现屑姓丈洹�
２．红外线检验素子
从试料反射出的能量的一部分，射进半球面迓亩サ愕男】祝靡欢ū嚷首黾煅椤�
注：比率是依据光学系的构造来决定。
３．放射率演算回路
从反射能量检验器的输出，演算试料的放射率。
注：试料的反射率和放射率的关系式如下：r εε＝１－r
４．放射率表示値的校正
利用附属的放射率基准片（ε＝０．０６与０．９４）做校正
测量原理：利用恒温放射的远红外线放射源，将能量照射后计算所反射的能量。
测量波长：2-22μｍ
测量范围：0.00-1.00
额定精度：±0.01
测量面积：Φ15mm
测量距离：12mm（固定侦测头的脚柱部）
被测物温：10-40℃（室温）
输 出：0-0.1V，0-1V（满载）
使用温度：10-45℃
使用湿度：35-85%RH（未结露、霜之状态）
使用电源：AC100V ±10%，50/60Hz
外型尺寸：探头51X137mm（0.5Kg） 主机H170X W306ｘD230mm（5Kg）
附属装置：发射率0.94、0.06标准片各一片。
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